Proprietates:
- Durabilis
- Insertio Humilis
- Damnum VSWR Humile
Specillae microfluctuum sunt instrumenta electronica ad signa electrica vel proprietates in circuitibus electronicis metiendas vel probandas adhibita. Solent oscilloscopio, multimetro, vel alio instrumento probationis coniungi ad notitias de circuitu vel componente metiendo colligendas.
1. Specillum micro-undarum durabile
2. Praesto in quattuor distantiis 100/150/200/25 micronum
3. DC ad 67 GHz
4. Insertionis iactura minus quam 1.4 dB
5. VSWR minus quam 1.45dB
6. Materia cuprea beryllium
7. Versio altae currentis praesto est (4A)
8. Levis indentatio et certa efficacia
9. Apex specilli ex mixtura niccoli contra oxidationem
10. Configurationes consuetudinariae praesto sunt
11. Aptus ad probationem in chip, extractionem parametrorum iuncturae, probationem producti MEMS, et probationem antennae in chip circuituum integratorum microfluctuum.
1. Praeclara mensurae accuratio et repetibilitas
2. Minimum damnum a brevibus scalpturis in pulvinis aluminio effectum
3. Typica resistentia contactus<0.03Ω
1. Examen circuitus RF:
Specillae undarum millimetricarum cum puncto probationis circuitus radiophonici (RF) coniungi possunt, amplitudine, phasi, frequentia aliisque parametris signi metiendo, ut effectus et stabilitas circuitus aestiment. Ad amplificatores potentiae RF, filtros, mixtores, amplificatores, aliosque circuitus RF probandos adhiberi possunt.
2. Examen systematis communicationis sine filo:
Specillum radiofrequentiae adhiberi potest ad instrumenta communicationis sine filo, ut telephona mobilia, itineratores Wi-Fi, instrumenta Bluetooth, et cetera, probanda. Specillum undae millimetricae ad portum antennae instrumenti connectendo, parametri, ut potentia transmissionis, sensibilitas receptionis, et deviatio frequentiae, metiri possunt ad perfunctionem instrumenti aestimandam et ad systema corrigendum et optimizandum dirigendum.
3. Examen antennae RF:
Specillum coaxiale ad mensurandas proprietates radiationis antennae et impedantiam ingressus adhiberi potest. Contactu specilli RF ad structuram antennae, VSWR (proportio undae stantis tensionis), modus radiationis, amplificatio, et alii parametri antennae metiri possunt ad aestimandam efficaciam antennae et ad designandum et optimizandum antennae.
4. Monitorium signorum radiophonicorum (RF):
Specillum radiophonicum (RF) ad transmissionem signorum RF in systemate monitorandam adhiberi potest. Ad attenuationem signorum, interferentiam, reflexionem, aliasque difficultates detegendas, ad vitia in systemate invenienda et diagnoscenda adiuvanda, et ad opera conservationis et correctionis errorum dirigenda adhiberi potest.
5. Examen compatibilitatis electromagneticae (EMC):
Specillae altae frequentiae ad probationes compatibilitatis electromagneticae (EMC) perficiendas adhiberi possunt, ut sensibilitas instrumentorum electronicorum ad interferentiam RF in ambitu circumstante aestiment. Specilla RF prope instrumentum collocata, responsionem instrumenti ad campos RF externos metiri et eius efficaciam EMC aestimare licet.
QualwaveInc. praebet probas altae frequentiae DC~110GHz, quae longae vitae utilis, VSWR humilis et damni insertionis humilis habent proprietates, et aptae sunt ad probationes microundarum aliisque locis.
Probulae Portus Singularis | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Numerus Partis | Frequentia (GHz) | Spatium (μm) | Magnitudo Apicis (m) | IL (dB Max.) | SWR (Max.) | Configuratio | Modi Montandi | Coniunctor | Potentia (W Maxima) | Tempus Praeparationis (hebdomades) |
QSP-26 | DC~26 | ducenti | 30 | 0.6 | 1.45 | SG | 45° | 2.92mm | - | 2~8 |
QSP-26.5 | DC~26.5 | CL | 30 | 0.7 | 1.2 | GSG | 45° | SMA | - | 2~8 |
QSP-40 | DC~40 | 100/125/150/250/300/400 | 30 | 1 | 1.6 | GS/SG/GSG | 45° | 2.92mm | - | 2~8 |
QSP-50 | DC~50 | CL | 30 | 0.8 | 1.4 | GSG | 45° | 2.4mm | - | 2~8 |
QSP-67 | DC~67 | 100/125/150/240/250 | 30 | 1.5 | 1.7 | GS/SG/GSG | 45° | 1.85mm | - | 2~8 |
QSP-110 | DC~110 | 50/75/100/125/150 | 30 | 1.5 | 2 | GS/GSG | 45° | 1.0mm | - | 2~8 |
Probae Duplicis Portus | ||||||||||
Numerus Partis | Frequentia (GHz) | Spatium (μm) | Magnitudo Apicis (m) | IL (dB Max.) | SWR (Max.) | Configuratio | Modi Montandi | Coniunctor | Potentia (W Maxima) | Tempus Praeparationis (hebdomades) |
QDP-40 | DC~40 | 125/150/650/800/1000 | 30 | 0.65 | 1.6 | SS/GSGSG | 45° | 2.92mm | - | 2~8 |
QDP-50 | DC~50 | 100/125/150/190 | 30 | 0.75 | 1.45 | GSSG | 45° | 2.4mm | - | 2~8 |
QDP-67 | DC~67 | 100/125/150/200 | 30 | 1.2 | 1.7 | SS/GSSG/GSGSG | 45° | 1.85mm, 1.0mm | - | 2~8 |
Explorationes Manuales | ||||||||||
Numerus Partis | Frequentia (GHz) | Spatium (μm) | Magnitudo Apicis (m) | IL (dB Max.) | SWR (Max.) | Configuratio | Modi Montandi | Coniunctor | Potentia (W Maxima) | Tempus Praeparationis (hebdomades) |
QMP-20 | DC~20 | 700/2300 | - | 0.5 | 2 | SS/GSSG/GSGSG | Munitio Funis | 2.92mm | - | 2~8 |
QMP-40 | DC~40 | DCCC | - | 0.5 | 2 | GSG | Munitio Funis | 2.92mm | - | 2~8 |
Probae TDR Differentiales | ||||||||||
Numerus Partis | Frequentia (GHz) | Spatium (μm) | Magnitudo Apicis (m) | IL (dB Max.) | SWR (Max.) | Configuratio | Modi Montandi | Coniunctor | Potentia (W Maxima) | Tempus Praeparationis (hebdomades) |
QDTP-40 | DC~40 | 0.5~4 | - | - | - | SS | - | 2.92mm | - | 2~8 |
Substrata Calibrationis | ||||||||||
Numerus Partis | Spatium (μm) | Configuratio | Constans Dielectrica | Crassitudo | Dimensio Adumbrata | Tempus Praeparationis (hebdomades) | ||||
QCS-75-250-GS-SG-A | 75-250 | GS/SG | 9.9 | 25milliaria (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
QCS-100-GSSG-A | centum | GSSG | 9.9 | 25milliaria (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
QCS-100-250-GSG-A | 100-250 | GSG | 9.9 | 25milliaria (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
QCS-250-500-GSG-A | 250-500 | GSG | 9.9 | 25milliaria (635μm) | 15*20mm | 2~8 | ||||
QCS-250-1250-GSG-A | 250-1250 | GSG | 9.9 | 25milliaria (635μm) | 15*20mm | 2~8 |